一、XRF-2020電鍍層測厚儀產品功能：
1、采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材！
1、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。
2、鍍層層數：可測5層。
3、測量產品位置尺寸：標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)
4、測量時間：通常15秒。
5、H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6 L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。
7、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
8、可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
二、產品參數：
1、X射線光管：鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm
2、高電壓：50千伏（1毫安）可根據軟件控制優化
3、探測器：高分辨氣體正比計數探測器
4、準直器：單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂制其他規格)
5、全自樣品臺，自動雷射對焦
(Micro pioneer XRF-2020/XRF-2000)
三、可測
1、單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
（1）鍍銀測量范圍0.1-50um
（2）鍍鎳測量范圍0.5-30um
（3）鍍銅測量范圍0.5-30um
（4）鍍錫測量范圍0.5-50um
（5）鍍金測量范圍0.02-6um
（6）鍍鋅測量范圍1-30um
（7）鋅鎳合金測量范圍1-25um
（8）鍍鉻測量范圍0.5-25um
2、儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
3、多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
4、可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
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